金属やプラスチックなどの表面観察や元素分析が可能な走査型電子顕微鏡（SEM）とエネルギー分散型X線分析装置（EDS）は、製品破壊の原因究明や異物解析など、さまざまな分野で活用されています。
　しかし、正確な観察・分析には、試料前処理、測定条件の設定、データ解析などの専門知識と技術が不可欠です。
　本講習会では、SEMおよびEDSの基本原理や観察ノウハウをわかりやすく解説するとともに、金属破断面・自動車部品・電子部品・異物解析の事例紹介を行います。

１　日　　時　令和７（2025）年９月12日（水）　13時30分～16時30分
２　開催方法　会場開催
　　　　　　会場：栃木県産業技術センター　大会議室
　　　　　　　　　〒321-3226　宇都宮市ゆいの杜１丁目５−２０
３　講　　師　株式会社日立ハイテクフィールディング
　　　　　　　　コアテクノロジーサービス本部　解析装置部
　　　　　　　　　解析カスタマーサクセスグループ　西村　雅子　氏
４　内　　容　
　　講演　走査型電子顕微鏡(SEM)の基本原理や観察ノウハウの解説と事例紹介
　　見学　センター保有のSEM「日立ハイテク SU3800」の見学

産業技術センター　機械電子技術部　近藤、水掫

FAX:028-667-9430